Leica EM TXP

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Zielflächensystem

Übersicht

Das Leica EM TXP ist ein einzigartiges Gerät zur Erstellung von Zielpräparaten, das speziell für das Polieren von Proben vor der Untersuchung durch SEM-, TEM- und LM-Techniken entwickelt wurde. Es zeichnet sich bei schwierigen Proben aus, bei denen die genaue Erfassung von kaum sichtbaren Zielen vereinfacht wird. Vor den Zeiten des Leica EM TXP waren Sägen, Fräsen, Schleifen und Polieren bis zum Ziel häufig zeitintensive und schwierige Verfahren, bei denen das Ziel leicht verfehlt wurde und Proben aufgrund ihrer geringen Größe schlecht zu handhaben waren.

Mit dem Leica EM TXP können diese Proben nun um vieles einfacher und schneller vorbereitet werden.